*報名資訊：

課程名稱:原子力顯微鏡(AFM)原理與技術研討會

活動內容:

原子力顯微鏡 ( Atomic Force Microscope ) 是利用奈米尺寸的探針在樣品表面做掃瞄，懸臂末端的探針尖端接觸表面，彎曲懸臂改變反射到光電二極管中的激光量，然後調整懸臂的高度以恢復響應信號，藉由懸臂移動高度測得追踪樣品表面。

近年來AFM開發很多的量測應用：如電性、磁性等，這些都必須搭配各式的探針與模組方能進行量測，根據其成像原理和操作模式的差異，以分析奈米材料表面形貌、表面粗糙度、尺度、電性、硬度、黏滯力等。涵蓋了聚合物材料表面結構、整合光路測量、材料力學性能特性、MEMS製程分析、細胞表面形態、結構觀察、資料儲存、液晶材料性能特性、生物感測器、分子自組裝結構、能源等領域的監測。

課程時間：2024年12月07日(三)13:00-16:30

講者：台灣布魯克生命科學股份公司奈米表面事業群應用科學家 林凡硯 博士

講習地點：工程三館教室1樓(ES102)

報名網址:https://webapp.yuntech.edu.tw/Activities/Activities/Details?activityID=82411

敬請有興趣所屬人員踴躍報名參加!