| 業務單位： | 環境安全科技中心 精密儀器中心 |
| 承 辦 人： | 張家偉 |
| 分 機： | 2811 |
| 電子郵件： | Email住址會使用灌水程式保護機制。你需要啟動Javascript才能觀看它 |
| 服務名稱： | 【熱門】場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM) |
服務說明：
1.服務對象
學生, 教師, 職員, 校友, 校外人士, 廠商
2.可提供的服務
（1）儀器名稱：場發射掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)
（2）英文名稱：Field Emission Scanning Electron Microscope
（3）功能：試片表面及截面幾何形狀觀測、凹凸面陰影觀測、元素鑑別及分析、觀測區域選定、調整景深及清晰度、數位螢幕顯示、材質含金屬、非金屬及無機物檢測。
（4）收費：
學界：600元／時；Sputter Coater (Pt) : 50元／次
業界：每小時1500元；Sputter Coater (Pt) : 500元／次
國科會計畫預約收費： 600元／時段(3小時）；Sputter Coater (Pt) : 50元／次
3.如何申請
線上, 紙本
4.注意事項
l. 樣品需乾燥，若需特殊處理，需先自行製備 。
2.試片在電子束照射下會分解或擇放氣體，因有礙必要之真空維持，恕不受理 。
3.本儀器拒絕受理含磁性、腐蝕性、揮發性及不耐高溫之試件。
4.樣品最好為導電及導熱體，大小最大不可超過長2cm、厚0.5cm 。
為避免造成損壞，本儀器拒絕受理具強磁性、磁性（如鐵、鈷、鎳等）或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料；
拒絕受理含有毒性、腐蝕性、揮發性、低熔點之樣品。
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